阻抗分析儀-精密阻抗分析儀

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6632系列益和阻抗分析儀阻抗分析儀6630 阻抗分析儀6630A 阻抗分析儀6377 阻抗分析儀6378 阻抗分析儀6420 阻抗分析儀6379

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益和偏流源測(cè)試系統(tǒng)6220+6632

更新日期：2022-08-24

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益和偏流源測(cè)試系統(tǒng)6240+6632， 6210、6220、6240 擁有內(nèi)部溫升掃描功能，透過(guò)掃描功能得到線圈內(nèi)溫度升高的參數(shù)，不再受限于空間過(guò)小導(dǎo)致量測(cè)數(shù)值非常困難。溫升掃描功能可以讓工程師了解線圈上加了電流以后，溫度爬升的狀況，就能立即知道元件是否會(huì)因溫度過(guò)高而燒毀。DC Bias 6210/6220 搭配精密阻抗分析儀6632 最多可迭加6臺(tái)，輸出電壓20Vdc。
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益和直流偏流源測(cè)試系統(tǒng)6220+6632

更新日期：2022-08-11

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益和直流偏流源測(cè)試系統(tǒng)6220+6632， 6210、6220、6240 擁有內(nèi)部溫升掃描功能，透過(guò)掃描功能得到線圈內(nèi)溫度升高的參數(shù)，不再受限于空間過(guò)小導(dǎo)致量測(cè)數(shù)值非常困難。溫升掃描功能可以讓工程師了解線圈上加了電流以后，溫度爬升的狀況，就能立即知道元件是否會(huì)因溫度過(guò)高而燒毀。DC Bias 6210/6220 搭配精密阻抗分析儀6632 最多可迭加6臺(tái)，輸出電壓20Vdc。
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益和直流偏流源測(cè)試儀6210

更新日期：2022-07-29

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益和直流偏流源測(cè)試儀6210、6220、6240 擁有內(nèi)部溫升掃描功能，透過(guò)掃描功能得到線圈內(nèi)溫度升高的參數(shù)，不再受限于空間過(guò)小導(dǎo)致量測(cè)數(shù)值非常困難。溫升掃描功能可以讓工程師了解線圈上加了電流以后，溫度爬升的狀況，就能立即知道組件是否會(huì)因溫度過(guò)高而燒毀。DC Bias 6210/6220 搭配 LCR Meter 6375-6379 系列多可迭加6臺(tái)，大輸出電壓20
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益和精密阻抗分析儀介電常數(shù)測(cè)試6632

更新日期：2022-07-27

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益和精密阻抗分析儀介電常數(shù)測(cè)試6632，提供7種頻率選項(xiàng)（10Hz至1/3/5/10/20/30/50MHz），可以進(jìn)行交流信號(hào)的LCR測(cè)試，測(cè)試頻率和測(cè)試級(jí)別可進(jìn)行連續(xù)變化的階段測(cè)量?？稍诓煌瑴y(cè)試、模式條件下、進(jìn)行高速地連續(xù)測(cè)試。
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益和阻抗測(cè)試儀6632

更新日期：2022-07-26

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益和阻抗測(cè)試儀6632，提供7種頻率選項(xiàng)（10Hz至1/3/5/10/20/30/50MHz），可以進(jìn)行交流信號(hào)的LCR測(cè)試，測(cè)試頻率和測(cè)試級(jí)別可進(jìn)行連續(xù)變化的階段測(cè)量。可在不同測(cè)試、模式條件下、進(jìn)行高速地連續(xù)測(cè)試。
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阻抗分析儀 6632

更新日期：2022-05-18

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阻抗分析儀 6632，提供7種頻率選項(xiàng)（10Hz至1/3/5/10/20/30/50MHz），可以進(jìn)行交流信號(hào)的LCR測(cè)試，測(cè)試頻率和測(cè)試級(jí)別可進(jìn)行連續(xù)變化的階段測(cè)量?？稍诓煌瑴y(cè)試、模式條件下、進(jìn)行高速地連續(xù)測(cè)試。
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賽秘爾多路阻抗測(cè)試儀 SMR260

更新日期：2022-03-31

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賽秘爾多路阻抗測(cè)試儀 SMR260，是全新設(shè)計(jì)的高精度寬量程、多路阻抗測(cè)試儀，采用結(jié)構(gòu)緊湊的插卡式設(shè)計(jì)，插卡可分為采集卡、報(bào)警卡、可任意配置。每張測(cè)試卡可對(duì)8路阻抗進(jìn)行掃描測(cè)試。采用高性能ARM微處理器控制。真彩4.3寸液晶可同時(shí)顯示48路阻抗值，并且每個(gè)通道可以單獨(dú)設(shè)置比較器，SMR260可以測(cè)試10μΩ～300KΩ的阻抗，顯示30,000數(shù)。
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益和精密阻抗分析儀 6632

更新日期：2022-12-01

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益和精密阻抗分析儀 6632，提供7種頻率選項(xiàng)（10Hz至1/3/5/10/20/30/50MHz），可以進(jìn)行交流信號(hào)的LCR測(cè)試，測(cè)試頻率和測(cè)試級(jí)別可進(jìn)行連續(xù)變化的階段測(cè)量?？稍诓煌瑴y(cè)試、模式條件下、進(jìn)行高速地連續(xù)測(cè)試。
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